11.02.2026
Neuer Fachartikel: Eignungsnachweise bei attributiven Prüfprozessen
Die Whitepaper-Reihe bietet einen umfassenden Einstieg sowie vertiefende Einblicke in attributive Prüfprozesse. Die Autoren Dipl.-Ing. Stephan Conrad und Frank Platte erläutern zentrale Fachbegriffe, relevante statistische Verfahren und praxistaugliche Methoden zur Beurteilung und Optimierung von Prüfprozessen.
Schwerpunkte der Inhalte:
- Einführung in die grundlegenden Konzepte attributiver Prüfprozesse
- Anforderungen an den Eignungsnachweis, einschließlich Auswahl geeigneter Prüf- und Referenzlose
- Verfahren zur Analyse diskreter und diskretisierter Merkmale
- Gegenüberstellung wichtiger Regelwerke wie VDA Band 5, AIAG MSA und Bosch Heft 10
- Praktische Beispiele und Empfehlungen für eine erfolgreiche Umsetzung im Unternehmen
Aufbau der dreiteiligen Whitepaper-Serie:
- Teil 1: Grundlagen attributiver Prüfprozesse – Definitionen, Konzepte und notwendige Voraussetzungen
- Teil 2: Methoden zum Eignungsnachweis bei diskreten Merkmalen – z. B. Kappa, Short Method und Effektivitätskennzahlen
- Teil 3: Eignungsnachweise für diskretisierte Merkmale – inklusive Signal-Detection-Ansätzen, analytischer Methoden und Besonderheiten bei Bild- und Kamerasystemen